Mit der 3D Analyst-Lizenz verfügbar.
Das Toolset "Sichtbarkeit" enthält Werkzeuge zum Ausführen verschiedener Formen von Sichtbarkeitsanalysen – vom Erstellen von Schattenmodellen und Sichtlinien zum Erstellen von Sichtfeldern und Skylines.
Lizenz:
Bestimmte Werkzeuge des Toolsets "Sichtbarkeit" sind auch mit einer Lizenz für die Erweiterung "Spatial Analyst" verfügbar. Diese Werkzeuge lauten: Beobachterpunkte, Sichtfeld, Sichtfeld 2 und Sichtbarkeit.
Werkzeug | Beschreibung |
---|---|
Dient zum Erstellen von Linien-Features, die Sichtlinien von einem oder mehreren Beobachterpunkten zu Features in einer Ziel-Feature-Class darstellen. | |
Legt die Sichtbarkeit von Sichtlinien unter Verwendung von potenziellen Hindernissen fest, die durch eine beliebige Kombination aus 3D-Features und Oberflächen definiert sind. | |
Bestimmt die Sichtbarkeit von Sichtlinien über Hindernissen, die aus einer Oberfläche und einem optionalen Multipatch-Dataset bestehen. | |
Hiermit werden die Beobachterpunkte bestimmt, die von jeder Position auf der Raster-Oberfläche sichtbar sind. | |
Generiert eine Line- oder Multipatch-Feature-Class, die die Ergebnisse einer Skyline- oder Silhouettenanalyse enthält. | |
Generiert eine Multipatch-Feature-Class, die eine Skyline-Barriere oder ein Schattenvolumen darstellt. | |
Berechnet die Sichtbarkeit des Himmels und generiert optional eine Tabelle und ein Polardiagramm. | |
Berechnet, wie oft bei einer festen Position auf einer Fläche keine direkte Sichtlinie zur Sonne besteht, weil Multipatch-Features diese unterbrechen. | |
Erstellt geschlossene Volumen, die Schatten modellieren, die bei Sonnenlicht an einem gegebenen Datum und zu einer gegebenen Uhrzeit von den Features geworfen werden. | |
Hiermit werden die Positionen auf der Raster-Oberfläche bestimmt, die verschiedene Beobachter-Features sehen können. | |
Bestimmt anhand geodätischer Methoden die Gitternetz-Oberflächenpositionen, die für eine Reihe von Beobachter-Features sichtbar sind. | |
Hiermit werden die Raster-Oberflächenpositionen, die für eine Reihe von Beobachter-Features sichtbar sind, oder die Beobachterpunkte, die von jeder Raster-Oberflächenposition sichtbar sind, ermittelt. |