ラベル | 説明 | データ タイプ |
入力フィーチャ | 従属変数と独立変数を格納したフィーチャクラス。 | Feature Layer |
従属変数 | モデル化される値を含む数値フィールド。 | Field |
説明変数 | 回帰モデルの独立説明変数を表すフィールドのリスト。 | Field |
出力フィーチャクラス | 従属変数の推定値と残差を受け取る出力フィーチャクラス。 | Feature Class |
カーネル タイプ | カーネルを固定距離として構築するか、フィーチャ密度の関数として範囲の変化を許容するかを指定します。
| String |
バンド幅手法 | カーネルの範囲の決定方法を指定します。補正赤池情報量基準または Cross Validation を選択すると、ツールによって、最適な距離/近傍数が特定されます。[距離] または [近傍数] パラメーターでどれを選択するべきかわからない場合、通常は、[赤池情報量基準] または [交差検証] のいずれかを選択します。ツールで最適な距離または近傍数が特定されたら、[以下の指定に一致] オプションを使用します。
| String |
距離 (オプション) | [カーネル タイプ] パラメーターを [固定] に設定しているとき、および [バンド幅手法] パラメーターを [以下の指定に一致] に設定しているときに使用する距離。 | Double |
近傍数 (オプション) | [カーネル タイプ] パラメーターが [適応] に設定され、[バンド幅手法] パラメーターが [以下の指定に一致] に設定されているときの Gaussian カーネルのローカル バンド幅に含まれる隣接フィーチャの正確な数。 | Long |
ウェイト (オプション) | 個々のフィーチャの空間ウェイトを格納した数値フィールド。この [ウェイト] フィールドでは、モデルのキャリブレーションで、一部のフィーチャを他よりも重要なものとして扱うことができます。これは、各位置で取得するサンプル数が異なり、従属および独立変数の値が平均され、サンプル数の多い位置の方が信頼性が高い (ウェイトを大きくすべきである) 場合に有用です。たとえば、ある位置での平均サンプル数が 25 であるのに対し、別の位置では平均で 2 つしかサンプルがない場合は、サンプル数を [ウェイト] フィールドに使用すると、サンプル数の多い位置がモデルのキャリブレーションに与える影響を、サンプル数の少ない位置が与える影響よりも大きくすることができます。 | Field |
係数ラスター ワークスペース (オプション) | 係数ラスターが作成されることになるワークスペースへのフル パス。ワークスペースを設けると、インターセプトとすべての説明変数についてラスターが作成されます。 | Workspace |
出力セル サイズ (オプション) | ラスター係数を作成するときに使用するセル サイズ (数) またはセル サイズの参照 (ラスター データセットへのパス)。 デフォルトのセル サイズは、ジオプロセシング環境出力データの空間参照で指定された範囲の幅または高さのどちらか短い方を 250 で除した値です。 | Analysis Cell Size |
推定地点フィーチャクラス (オプション) | 推定を計算する必要がある場合に、位置を表すフィーチャが格納されるフィーチャクラス。このデータセットの各フィーチャには、指定されたすべての説明変数の値を格納する必要があります。これらのフィーチャの従属変数は、入力フィーチャクラス データについてキャリブレーションされたモデルを使用して推定されます。 | Feature Layer |
説明変数フィールド (オプション) | 予測位置フィーチャクラスで説明変数を表すフィールドのリスト。これらのフィールド名は、入力フィーチャクラスの [説明変数] パラメーターのリストと同じ順序 (1 対 1 の対応) にする必要があります。予測説明変数を指定しないと、予測フィーチャクラス出力には、各予測位置について計算された係数値だけが格納されます。 | Field |
出力推定フィーチャクラス (オプション) | 予測位置フィーチャクラスの各フィーチャについて、従属変数の推定を受け取る出力フィーチャクラス。 | Feature Class |
派生した出力
ラベル | 説明 | データ タイプ |
出力テーブル | ツールの実行サマリー レポート診断値が格納されたテーブル。 | テーブル |
出力回帰ラスター | すべての係数ラスターが作成されることになるワークスペース。 | ラスター レイヤー |