Mit der Spatial Analyst-Lizenz verfügbar.
Mit der 3D Analyst-Lizenz verfügbar.
Mit den Oberflächenwerkzeugen können Sie ein Terrain quantifizieren und visualisieren, das durch ein digitales Höhenmodell dargestellt wird.
Beginnend mit einer Raster-Höhenoberfläche als Eingabe können Sie mithilfe dieser Werkzeuge zusätzliche Informationen erhalten, indem Sie ein neues Dataset erstellen, das ein bestimmtes Muster in einem ursprünglichen Dataset aufzeigt. Sie können Muster ableiten, die auf der ursprünglichen Oberfläche nicht sofort sichtbar waren, z. B. Konturlinien, Neigungswinkel, Richtung der steilsten Neigung (Ausrichtung), geschummertes Relief (Schummerung) und Sichtbarkeit.
Jedes Oberflächenwerkzeug liefert weitere Informationen zu einer Oberfläche, die eigenständig verwendet oder zur Eingabe in eine weitere Analyse dienen können.
Werkzeug | Beschreibung |
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Leitet die Ausrichtung von jeder Zelle einer Raster-Oberfläche her. | |
Erstellt aus einer Raster-Oberfläche eine Line-Feature-Class von Konturlinien. | |
Erstellt aus einer Raster-Oberfläche eine Feature-Class ausgewählter Konturlinienwerte. | |
Hiermit werden Konturlinien aus einer Raster-Oberfläche erstellt. Die Einbeziehung von Barrieren-Features ermöglicht die unabhängige Erzeugung von Konturen auf beiden Seiten der Barriere. | |
Berechnet die Krümmung einer Raster-Oberfläche, optional mit Vertikal- und Horizontalkrümmung. | |
Berechnet die Volumenänderung zwischen zwei Oberflächen. Dieses Werkzeug wird in der Regel für Ab- und Auftragsvorgänge verwendet. | |
Erstellt unter Berücksichtigung von Beleuchtungsquellwinkel und Schatten ein geschummertes Relief aus einem Oberflächen-Raster. | |
Hiermit werden die Beobachterpunkte bestimmt, die von jeder Position auf der Raster-Oberfläche sichtbar sind. | |
Gibt die Neigung (Gradient oder Steilheit) jeder Zelle eines Rasters an. | |
Hiermit werden die Positionen auf der Raster-Oberfläche bestimmt, die verschiedene Beobachter-Features sehen können. | |
Bestimmt anhand geodätischer Methoden die Gitternetz-Oberflächenpositionen, die für eine Reihe von Beobachter-Features sichtbar sind. | |
Hiermit werden die Raster-Oberflächenpositionen, die für eine Reihe von Beobachter-Features sichtbar sind, oder die Beobachterpunkte, die von jeder Raster-Oberflächenposition sichtbar sind, ermittelt. |